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【培訓】11月28日:《TFT-LCD產線工藝整合》培訓提綱
日期:2016-09-20

時間:1128日(周六)900-12:0013:00-16:00

地點:上海南泉大酒店一樓宴會廳,浦東新區北張家浜路151號,近南泉路口

講師:上海天馬微電子有限公司張世曉廠長

 

第一部分、工藝整合任務介紹

1    TFT-LCD制程簡述

2    工藝整合的主要任務

3    工藝整合在新品導入中的任務

4    工藝整合在量產管理中的任務——內外部客戶導向

 

第二部分、測試工藝及設備介紹

1    用于清洗評價的測試:Particle counterContact Angle

2    用于Particle評價的測試:AOI

3    用于關鍵尺寸評價的測試:CDC

4    用于薄膜特效評價的測試:SR, SE, RS, Profiler

5    用于TFT電性評價的測試:TEG

6    用于產品電性檢查的測試:Array Test

7    用于宏觀微觀檢查的測試:MIC/MAC

8    用于Rubbing檢查的測試:Rubbing檢查

9    用于Cell檢查的測試:Cell Gap

10  用于Module功能不良的測試:AIS

11  用于ITO Scratch的測試:Scratch AOI

12  用于缺陷分析的測試:光學顯微鏡,SEM, FIB, FTIR, AFM

 

第三部分、不良分析及良率提升案例分析

1    良率模型

2    不良解析流程介紹:點缺陷解析流程,線缺陷解析流程,Module線缺陷解析流程

3    點線缺陷分析專案

4    不良解析流程介紹:Mura

5    Mura缺陷分析專案

 

第四部分、新產品新技術導入介紹

1    工藝整合在新品導入中的任務

2    各項工程中需要追蹤測定的項目:Array, Cell, Module工程

3    TFT-LCD新技術:半反半透顯示, 3D光柵, Color E-paper, 氧化物半導體,LTPS

4    AMOLED:結構及發光原理,彩色化方式,工藝流程,產品應用

注意事項:

課時:9:00-12:0013:00-16:00

培訓費用包含午餐、講義和結業證書

各項課程均滿10人開課

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楊韻嬌

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